天津市拓普儀器
Tianjin Topu Instrument
服務(wù)熱線：022-88289916
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WMG-3型（工程光學(xué)）智能壓電陶瓷干涉測(cè)量實(shí)驗(yàn)儀是我公司自主研發(fā)的一套實(shí)驗(yàn)儀器，該儀器是我們通過借鑒傳統(tǒng)干涉儀的經(jīng)典設(shè)計(jì)，并結(jié)合全新的平臺(tái)式結(jié)構(gòu)精心設(shè)計(jì)而成的。目前，它是高等院校物理實(shí)驗(yàn)中觀察光的各種干涉現(xiàn)象并驗(yàn)證相關(guān)基礎(chǔ)理論的重要光學(xué)儀器。
近代科學(xué)技術(shù)的許多領(lǐng)域中對(duì)各種薄膜的研究和應(yīng)用日益廣泛。因此，更加精確和迅速的測(cè)定給定薄膜的光學(xué)參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實(shí)際工作中可以利用各種傳統(tǒng)的方法測(cè)定光學(xué)參數(shù)，如：布儒斯特角法測(cè)介質(zhì)膜的折射率，干涉法測(cè)膜厚，其它測(cè)膜厚的方法還有稱重法、X射線法、電容法、橢偏法等。
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